無(wú)損檢測(cè)就是指在不損壞試件的前提下，對(duì)試件進(jìn)行檢查和測(cè)試的方法，也叫非破壞性檢驗(yàn)。隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，激光、紅外、微波、液晶等技術(shù)都被應(yīng)用于無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域，而傳統(tǒng)的常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)也因?yàn)楝F(xiàn)代科技的發(fā)展，大大豐富了應(yīng)用方法。

無(wú)損檢測(cè)是工業(yè)發(fā)展必不可少的有效工具，在一定程度上反映了一個(gè)國(guó)家的工業(yè)發(fā)展水平，其重要性已得到公認(rèn)。

無(wú)損檢測(cè)簡(jiǎn)介

無(wú)損檢測(cè)就是NonDestructive Testing，縮寫(xiě)是NDT（或NDE，non-destructive examination），也叫無(wú)損探傷，是在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下，采用射線、超聲、紅外、電磁等原理技術(shù)并結(jié)合儀器對(duì)材料、零件、設(shè)備進(jìn)行缺陷、化學(xué)、物理參數(shù)檢測(cè)的技術(shù)。

無(wú)損檢測(cè)的特點(diǎn)：

不破壞被檢對(duì)象。

可實(shí)現(xiàn)100%的檢驗(yàn)。

發(fā)現(xiàn)缺陷并做出評(píng)價(jià)，從而評(píng)定被檢對(duì)象的質(zhì)量。

可對(duì)缺陷形成原因及發(fā)展規(guī)律做出判斷，以促進(jìn)有關(guān)部門(mén)改進(jìn)生產(chǎn)工藝和產(chǎn)品質(zhì)量。

對(duì)關(guān)鍵部位在運(yùn)行中作定期檢測(cè)，甚至長(zhǎng)期監(jiān)控以保證運(yùn)行安全，防止事故發(fā)生。

無(wú)損檢測(cè)方法

常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法：

超聲檢測(cè)（UT）

射線檢測(cè)（RT）

磁粉檢測(cè)（MT）

滲透檢測(cè)（PT）

渦流檢測(cè)（ET）

常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法是指目前應(yīng)用較廣又較為成熟的無(wú)損檢測(cè)方法。

除此之外，其他無(wú)損檢測(cè)方法：聲發(fā)射檢測(cè)（AT）、熱像/紅外（TIR）、泄漏試驗(yàn)（LT）、交流場(chǎng)測(cè)量技術(shù)（ACFMT）、漏磁檢驗(yàn)（MFL)、遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試檢測(cè)方法（RFT)等。

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